Ультразвуковой дефектоскоп Omniscan X3

OmniScan X3 – полностью усовершенствованный современный дефектоскоп на фазированных решетках. Мощные инструменты, такие как метод общей фокусировки (TFM) и улучшенные средства визуализации, позволяют с уверенностью выполнить контроль.

ИНОВАЦИОННЫЙ TFM

• Высокое разрешение изображений позволяет обнаружить мельчайшие дефекты
• Выявление высокотемпературного водородного растрескивания (HTHA) на ранних стадиях,
  когда это действительно важно
• Карта акустического воздействия (AIM) позволяет
  визуализировать чувствительность TFM и соответственно настраивать ее
• До 4-х режимов TFM упрощает измерение и оценку дефектов

УЛУЧШЕННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ ФР

• В 2 раза быстрее дефектоскопа OmniScan MX2 (частота повторения импульсов)
• Одно меню TOFD для ускоренной работы
• Улучшенная и быстрая калибровка ФР — Никакого стресса!
• Диапазон высоких амплитуд 800% снижает необходимость повторного сканирования
• Встроенная поддержка преобразователей Dual Linear Array™ и Dual Matrix Array™ ускоряет процесс настройки

НАДЕЖНОСТЬ

• Степень защиты IP65: защита от дождя и пыли
• Встроенный GPS для определения местоположения данных
• Возможность беспроводного подключения к Olympus Scientific Cloud™ для загрузки и установки последней версии ПО
• Непрерывное сканирование благодаря максимальному размеру файла 25 ГБ

ГЛАВНЫЙ ИНСТРУМЕНТ ПАРКА ОБОРУДОВАНИЯ

Дефектоскоп OmniScan™ X3 имеет все необходимые инструменты для эффективного выполнения работы. Широкий спектр применения включает: диагностику сварных швов, трубопроводов, труб, коррозионно-стойких сплавов, коррозионный мониторинг, контроль высокотемпературного водородного растрескивания, выявление ступенчатого растрескивания, контроль композиционных материалов и многое другое.

• Совместим с существующими преобразователями и сканерами
• Модель 32:128PR, TFM 64-элемента
• Также доступны 16:64PR и 16:128PR
• До 8 групп, 1 024 законов фокусировки
• Совместим с файлами MX2/SX
• Внутренний твердотельный SSD-накопитель (64 ГБ), расширяемый с помощью внешнего USB-накопителя;

ДО 4-Х РЕЖИМОВ TFM УПРОЩАЕТ ИЗМЕРЕНИЕ И ОЦЕНКУ ДЕФЕКТОВ

Использование разных режимов TFM (групп волн) в ходе одного контроля дает больше шансов выявить дефекты с нетипичной ориентацией. Дефектоскоп OmniScan X3 с возможностью использования до 4-х режимов TFM одновременно позволяет генерировать изображения под разными углами. Чувствительность и характеристики каждого режима (такие как, дифракция на концах дефекта, «угловой отражатель» и профиль дефекта) могут использоваться одновременно для подтверждения типа дефекта и более точного определения его размеров.

ОБЗОР ОБЛАСТИ СКАНИРОВАНИЯ

Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя.

Инструмент AIM позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, план сканирования.

ГОТОВНОСТЬ К РАБОТЕ

Средства визуализации позволяют задать план сканирования до начала контроля.

• Возможность создания плана сканирования, включая зону TFM.
• Одновременная конфигурация нескольких групп и преобразователей
• Улучшенные средства калибровки и настройки

ИСПОЛЬЗУЙТЕ ВСЮ МОЩЬ ВАШЕГО ПК

Программное обеспечение OmniPC^™ включает широкий спектр инструментов, включая параллельное представление данных (бок о бок). Данная функция позволяет сравнивать два файла на одном экране, максимально используя возможности ПК при анализе данных.

• Быстрый экспорт данных на USB-накопитель
• Просмотр левой и правой сторон сварного шва
• Сравнение текущих и полученных ранее данных на одном экране